Lo strumento ZEISS Crossbeam 550 FIB-SEM è uno strumento altamente versatile per le scienze dei materiali (naturali e sintetiche, organiche e inorganiche), i materiali avanzati, l’elettronica, la produzione e le scienze della vita.
Combinando l’imaging e le prestazioni analitiche di un microscopio elettronico a scansione FEG (FEG-SEM) con la capacità di elaborazione di un fascio ionico focalizzato (FIB) e un sistema di iniezione di gas, il nostro ZEISS 550 Crossbeam consente:
> Immagini ad alta risoluzione
> Microanalisi (sistema EDS)
> Mappatura di aree estese
> Tomografia 3D multicanale
> Preparazione dei campioni per TEM, APT, AFM (ad es. pellicole trasparenti agli elettroni, chip, pilastri)
> Nanofabbricazione tramite deposizione e attacco assistiti da gas
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